Portal do Governo Brasileiro
Sites de InteresseMapa do SiteOuvidoriaFale com o Inmetro
Página Inicial

Acreditação Nº 477
Data da Acreditação 03/12/2010
ACREDITAÇÃO VIGENTE Clique aqui para mais informações.
Última Revisão do Escopo 13/03/2024
Razão Social CTJ Metrologia Comércio e Serviços Ltda. - EPP
Nome do Laboratório CTJ Tecnologia & Confiabilidade
Situação Ativo
Endereço Rodovia Washington Luiz, 14.373, Quadra 9, Lote 26
Bairro Pq. Jorge Abdala Cha
CEP 25240005
Cidade Duque de Caxias
UF RJ
Telefone (21) 3654-8000 / 2676-2648
Fax

Grupo de Serviço de Calibração DIMENSIONAL
Gerente Técnico Nilson Tutumi
Email ntutumi@grupoctj.com.br

ESCOPO DA ACREDITAÇÃO - ABNT NBR ISO/IEC 17025 - CALIBRAÇÃO


Descrição do Serviço Parâmetro, Faixa e Método Capacidade de Medição e Calibração (CMC)

(Realizados nas instalações permanentes)

INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE ÂNGULO
Escala Angular Digital0° a 360° 1,3´
Método de medição em projetor de perfil
Escala Angular Graduada0° a 360° 1,3´
Método de medição em projetor de perfil
Gabarito de Ângulos0° a 360° 1,3´
Método de medição em projetor de perfil
Goniômetro0° até 360°
Método de comparação com padrão de ângulo (Régua de Seno e Bloco Padrão)
Nível de BolhaAté 50 mm/m 0,017 mm/m
Método de comparação dos deslocamentos obtidos na escala do nível contra um sistema gerador de pequenos deslocamentos (micrômetro milesimal)
com uma base de apoio de comprimento conhecido

INSTRUMENTOS E GABARITOS DE MEDIÇÃO DE COMPRIMENTO
Comparador de Diâmetros InternosAté 25 mm 0,002 mm
Método de comparação com calibrador de relógios
Gabarito de FolgaAté 25 mm 0,002 mm
Método de medição com micrômetro externo milésimal
Gabarito de Raio0° a 360° 1,3´
Método de medição em projetor de perfil
Medidor de AlturaAté 1000 mm 0,02 mm
Método de comparação com padrão escalonado
Método de comparação com blocos padrão sobre desempeno de granito
Medidor de Espessura com Relógio ComparadorAté 50 mm 0,002 mm
Método de comparação com blocos padrão
Método de calibração com calibrador de relógios
Medidor de Espessura de Camada de Tinta Seca9 µm até 5792 µm 1 µm até 10 µm
Método de comparação com padrão de espessura para camada de tinta seca
Micrômetro de ProfundidadeAté 500 mm 0,002 mm
Método de comparação com blocos padrão
Micrômetro ExternoAté 300 mm 0,002 mm
> 300 mm até 500 mm 0,003 mm
> 500 mm até 1000 mm 0,004 mm
Método de comparação com blocos padrão, plano óptico e paralelo optico
ABNT NBR NM ISO 3611:1997
Micrômetro Interno de 2 pontas10 a 300 mm 0,004 mm
> 300 a 500 mm 0,005 mm
> 500 a 600 mm 0,006 mm
Método de calibração com máquina de medição linear
Micrômetro Interno de 3 pontas4 mm até 100 mm 0,002 mm
Método de comparação com anel liso cilíndrico
PaquímetroAté 1000 mm 0,02 mm
Método de comparação com blocos padrão
Método de comparação com padrão escalonado
Método de comparação com anel padrão
ABNT NBR NM 216:2000
Peneira Granulométrica10 µm até 25 mm 2,1 µm
>25 mm até 150 mm 0,013 mm
Método de medição de aberturas e diâmetros de fios com projetor de perfil ou paquímetro
ABNT NBR NM-ISO 3310-2:2010
Régua GraduadaAté 2000 mm 0,1 mm
Método de medição da distância entre traços, por comparação a? régua graduada utilizando lupa de medição
Relógio ApalpadorAté 25 mm 0,002 mm
Método de calibração com calibrador de relógios
Relógio ComparadorAté 25 mm 0,002 mm
Método de calibração com calibrador de relógios
TrenaAté 50 m 0,6 mm até 1,6 mm
Método de medição da distância entre traços, por comparação a? régua graduada ou trena padrão utilizando lupa de medição
ABNT NBR 10123-10:2012
ABNT NBR 10124-06:1987

MEDIÇÃO DE PEÇAS DIVERSAS E COMPONENTES
Medição de Forma, Posição e Orientação em Peças DiversasParâmetros: retitude, planeza, circularidade, perfil de linha, perfil de superfície, posição de um elemento, concentricidade, coaxialidade, simetria,
paralelismo, perpendicularidade e inclinação
Até 25 mm 0,002 mm
> 25 mm até 300 mm 0,02 mm
> 300 mm até 2000 mm 0,2 mm
0° até 360°
Método de comparação direta com instrumentos padrões diversos
Medição de Rugosidade em Peças Diversas e Componentes0 a 100 µm Ra 6,5% + 0,01 µm
0 a 350 µm Rz 6,5% + 0,02 µm
Método de medição com rugosímetro
Medições Lineares em Peças Diversas e ComponentesAté 25 mm 0,002 mm
> 25 mm até 500 mm 0,02 mm
>500 mm a 2000 mm 0,2 mm
> 2000 até 10000 mm 0,18 mm
>10000 a 20000 mm 0,73 mm
Método de comparação direta com instrumentos padrões diversos

PADRÕES DE COMPRIMENTO
Padrão de Espessura para Medidas de Espessura de Camada de Tinta SecaAté 25 mm 0,002 mm
Método de medição com micrometro externo

PADRÕES DE ÂNGULO
EsquadroAté 600 mm x 600 mm 4 µm
Método de comparação da face do esquadro contra um esquadro padrão ou esquadro cilíndrico utilizando blocos padrão
Método de medição de paralelismo e planeza com desempeno e relógio apalpador

PADRÕES DE FORMA, POSIÇÃO E ORIENTAÇÃO
DesempenoAté 3000 mm x 3000 mm 0,3 µm
Determinação de topografia e do erro de planeza com nível.

(Realizados nas instalações do cliente)

MEDIÇÃO DE PEÇAS DIVERSAS E COMPONENTES
Medição de Forma, Posição e Orientação em Peças DiversasParâmetros: retitude, planeza, circularidade, perfil de linha, perfil de superfície, posição de um elemento, concentricidade,
coaxilidade, simetria, paralelismo, perpendicularidade e inclinação
Até 25 mm 0,002 mm
> 25 mm até 300 mm 0,02 mm
> 300 mm até 2000 mm 0,2 mm
0° até 360°
Método de comparação direta com instrumentos padrões diversos
Medição de Rugosidade em Peças Diversas e Componentes0 a 100 µm Ra 6,5% + 0,01 µm
0 a 350 µm Rz 6,5% + 0,02 µm
Método de medição com rugosímetro
Medições Lineares em Peças Diversas e ComponentesAté 25 mm 0,002 mm
> 25 mm até 500 mm 0,02 mm
>500 mm a 2000 mm 0,2 mm
>2000 até 10000 mm 0,18 mm
>10000 a 20000 mm 0,73 mm
Método de comparação direta com instrumentos padrões diversos

PADRÕES DE FORMA, POSIÇÃO E ORIENTAÇÃO
DesempenoAté 3000 mm x 3000 mm 0,3 µm
Determinação de topografia e do erro de planeza com nível



Observações:

  1. A capacidade de medição e calibração (CMC) refere-se á menor incerteza que o Laboratório é capaz de obter, com uma probabilidade de abrangência ou nível da confiança de aproximadamente 95%. Caso o laboratório utilize mais de um método para realizar uma determinada calibração ou medição, a CMC se referirá ao método pelo qual o laboratório obtém a menor incerteza de medição. (Ver NIT-Dicla-021)
  2. A CMC identificada por um asterisco (*) não inclui todas as contribuições oriundas do instrumento ou padrão calibrado ou do dispositivo medido.
  3. O Laboratório poderá declarar em seus certificados de calibração, incertezas de medição maiores que a sua CMC, devido às contribuições relativas ás propriedades ou características do padrão ou instrumento de medição calibrado.